また、集積回路（IC）の中に存在する寄生サイリスタ構造の部分に電荷が発生すると、電極間が導通状態になり外部電源を切るまでICに大電流が流れ続け、ついには焼損することが ...

アルファ粒子以上の質量を持つ放射線が材料中に進入すると，その飛跡に沿って多くの電子・正孔ペアが発生．これが電位差でおのおのが反対方向へ移動して電流が流れたかの ...

1 個の粒子が半導体デバイスの逆バイアスされた接合. 部に入射したとき一回だけパルス状の電流が発生するため、このように呼ばれる. ようになった。 4. Page 8. 図 1.3 は ...

2023/07/07 · SEE（シングルイベント効果）を知ろう。 ... その電離作用で生成される電荷が起因となって生じる過渡電流により、「デバイスの一時的な誤動作や永久故障を ...

半導体デバイスに重イオンのような. 電離放射線が入射すると，その飛程に沿って電子正孔対が発生し，その一部が各電極に収集されることで回路に過渡電. 流が流れ，ソフト ...

回路シミュレーションではシングルイベント効果による影響を電流源や式を用いてモ. デル化しているため, 評価精度に限界がある. シングルイベント効果によるソフトエラー.

... 電流を計測できる電源システムを開発でき ... シングルイベントラッチアップ対策. 過電流防止回路を用いて、電力ライン毎に閾値電流を設定することで、. シングルイベント ...

SEB (Single Event Burnout) 主に大電流を流. すパワー素子で発生し，大電流により素子その. ものが破壊される． このうち SEU を一般的にソフトエラーと呼ぶ．こ. れは図 ...

2022/02/16 · SEBは、高エネルギーの重粒子の衝突によって発生した電離効果によって、部品内部に局所的な大電流状態をもたらすことで、結果的に破壊に至る現象です。

2023/09/25 · 一方、取り返しのつかない永久故障が起こる“ハードエラー”は、通常動作時に流れて欲しくないパスへ大電流が流れることで発生します。 想定する現象と ...