半導体デバイスに重イオンのような 電離放射線が入射すると，その飛程に沿って電子正孔対が発生し，その一部が各電極に収集されることで回路に過渡電 流が流れ，ソフトエラーやハードエラーが引き起こされる． この現象をシングルイベント効果(SEE : Single Event Effect) という．
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