半導体デバイスに重イオンのような 電離放射線が入射すると，その飛程に沿って電子正孔対が発生し，その一部が各電極に収集されることで回路に過渡電 流が流れ，ソフトエラーやハードエラーが引き起こされる． この現象をシングルイベント効果(SEE : Single Event Effect) という．
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single event upset effect アルファ粒子以上の質量を持つ放射線が材料中に進入すると，その飛跡に沿って多くの電子・正孔ペアが発生． これが電位差でおのおのが反対方向 ...
2023/07/07 · SEE（シングルイベント効果）を知ろう。 その電離作用で生成される電荷が起因となって生じる過渡電流により、「デバイスの一時的な誤動作や永久故障を引 ...
シングルイベント効果とは, 重イオンや中性子などの放射線 が LSI に入射することにより生じる [2]. 放射線の電離作用によって生じた電子正孔対が ドリフトなどによってト ...
2022/02/16 · SEBは、高エネルギーの重粒子の衝突によって発生した電離効果によって、部品内部に局所的な大電流状態をもたらすことで、結果的に破壊に至る現象です。
高 いエネルギーを持つ一個 のイオ ンが半導体 デバ イスに入射 して引 き起 こす故障 をシ ングル イベ ン ト効果(SEE:single‑event effects)と 呼ぶ。
半導体に単発の高エネルギー粒子が入射することによって起こる現象をシング ル・イベント効果 (Single Event Effect、以下 SEE) という。 SEE は、宇宙機が運 用される宇 ...
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