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[PDF] FPGA におけるシングル・イベン ト・アップセット(SEU)の緩和－比 較分析

www.gowinsemi.com › document_ja
表 1. 55nm TSMC コンフィギュレーション SRAM セルと 22nm Gowin コンフィギュレ. ーション SRAM セルの比較。 Page 5. FPGA におけるシングル・イベント・アップセット( ...

Microchip社 不揮発性 FPGAの特徴 ～ソフトエラー(SEU)耐性編 - マクニカ

www.macnica.co.jp › ... › 技術情報
2020/07/06 · ここで、SEUはSingle Event Upset『シングル・イベント・アップセット』の略語で、中性子の影響で発生する不具合を指し、SEUによって生じる不具合がソフト ...

[PDF] 第 1 章 序論 - 先進宇宙ロケット工学研究室

art.aees.kyushu-u.ac.jp › Mnishijima
高エネルギーの宇宙線（宇宙線陽子、重イオンなど）が半導体デバイスに入射す. ると、ビット内情報が反転する（シングルイベントアップセット：SEU）という現. 象が起こることが ...

[PDF] 集積回路におけるシングルイベント効果の評価と ソフトエラー耐性向上 ...

repository.kulib.kyoto-u.ac.jp › djo...
... SET(Single Event Transient) と, SRAM などの記憶. 素子で生じる SEU(Single Event Upset) である. 1 つの粒子が入射することで複数の SET. や SEU が生じる場合がある.

宇宙から降り注ぐ放射線を「ブラウザのエラー」で検出するアイデア ...

gigazine.net › ソフトウェア
2022/04/14 · ... シングル・イベント・アップセット(SEU)」という現象が生じることがあります。このSEUのせいで回路自体には何の問題もないのにソフトウェアにエラーが ...

[PDF] 半導体メモリーのミューオン誘起 シングルイベントアップセット ...

confit.atlas.jp › guide › public › pdf
(SEU)の発生予測シミュレーションを行い、SEU 発生頻度の入射エネルギー依存性を調べた。 キーワード：ソフトエラー，シングルイベントアップセット，PHITS，ミューオン.

FPGAのシングルイベントアップセット(SEU)回避方法について

mtwestsun.blogspot.com › 2013/02 › fpg...
2013/02/05 · FPGAのシングルイベントアップセット(SEU)回避方法について ... 各種のPOST_CRC制約をucfに記述するだけでOK。 ... これによってINIT_Bなどの端子にエラー状態 ...

[PDF] 半導体の耐性試験 −加速器によるシングルイベント耐性の実測評価−

www.pasj.jp › cgi-bin › kasokuki
本章ではソフトエラーの歴史と発生要因につい. て述べる． 2.1 SEE の分類とその歴史. 放射線による SEE は主に下記に分類される． SEU（Single Event Upset ...

半導体メモリーに対する宇宙線ミューオン誘起シングルイベント ...

jopss.jaea.go.jp › search › servlet › search
放射線が半導体デバイスに入射することで記憶データの反転(シングルイベントアップセット: SEU)が生じ、結果として電子機器に一時的な誤動作(ソフトエラー)が生じる。

[PDF] 半導体メモリデバイスに対する陽子入射シングル イベントアップセット ...

www.rcnp.osaka-u.ac.jp › watanabe
半導体デバイス分野： 宇宙、航空機、原子力、加速器施設で使用. ⇒ 半導体メモリ素子の放射線損傷問題. “シングルイベントアップセット(SEU)”.